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edx 4500h x熒光光譜儀是利用xrf檢測原理實現(xiàn)對各種元素  成份進行快速、準確、無損分析。 
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對si、p、s、al、mg等輕元素  具有良好的激發(fā)效果，利用xrf技術可對高含量的cr、ni、mo等重點關注的元素  進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素  分析、有害元素  檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗x光管，指標達到國際先進水平 
最新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000cps，精度更高。在合金檢測中效果更好
sdd硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器專利產品—信噪比增強器（sne），提高信號處理能力25倍以上 
低能x射線激發(fā)待測元素  ，對si、p等輕元素  激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素  的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素  間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數(shù)

產品型號：edx 4500h
產品名稱：x熒光光譜儀 
測量元素  范圍：從鈉（na）到鈾（u）
元素  含量分析范圍： ppm—99.99％（不同元素  ，分析范圍不同） 
同時分析元素  ：一次性可測幾十種元素   
測量時間：30秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5ev
管壓：5kv-50kv 
管流：50μa-1000μa
測量對象狀態(tài)：粉  末、固體、液體
輸入電壓：ac 110v/220v
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：35％-70％
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg

標準配置

高效超薄窗x光管 
sdd硅漂移探測器 
數(shù)字多道技術
信噪比增強器 sne
光路增強系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩(wěn)譜裝置 
三重安  全保護模式 
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素  分析、有害元素  檢測（rohs、鹵素  ）