x-ray鍍層膜厚測試儀 在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè),x-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
a：區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多4層及24種元素。
b ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0.025mil
c ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、cad文件等。
d ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、ucl(控制上限)、lcl(控制下限)、cpk圖、直方圖、x-bar/r圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
e ：可測量任一測量點，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
美國博曼膜厚測試儀的優(yōu)點
> 采用國際上最先進(jìn)的、穩(wěn)定性最好的射線源，體積小，使用壽命長，易維護(hù)。
> 設(shè)備結(jié)構(gòu)簡潔、操作簡單、部件更換快速、簡單，便于維護(hù)。
> 快速多點校正法技術(shù)保證了系統(tǒng)的長期精度。
> 快速、連續(xù)、非接觸測量、實時顯示高精度測量值。
> 操作站：提供中英文操作界面(win7)。使用最新的java 技術(shù)。
> 采用雙放大技術(shù)和獨特大電離室，提升測量范圍及精度。
美國膜厚測試儀膜厚測試儀測量技術(shù)領(lǐng)先同行15年，在同測量領(lǐng)域獨領(lǐng)風(fēng)蚤，成為膜厚儀之王，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，高端先進(jìn)的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。
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