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低溫試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的低溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。按工作狀態(tài)不同，分為低溫貯存試驗(yàn)、低溫工作試驗(yàn)。其目的主要用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低溫環(huán)境的適應(yīng)性。

2.2 掌握情況我司可按gb t 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)a 低溫試驗(yàn)方法及gjb 150.4a-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn).等標(biāo)準(zhǔn)要求，開(kāi)展低溫貯存試驗(yàn)、低溫工作試驗(yàn)�？蛇M(jìn)行常溫到-100℃試驗(yàn)，試驗(yàn)箱空間最大為45立方米，是目前國(guó)內(nèi)僅有的幾家可以試驗(yàn)到-100℃溫度的實(shí)驗(yàn)室之一，為國(guó)防航天航空產(chǎn)品試驗(yàn)提供有力保障。

2.3 用途用于電子元件、家用電器、軍用裝備、汽車(chē)零部件等的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。

高溫試驗(yàn)3.1 技術(shù)描述高溫試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。按工作狀態(tài)不同，分為高溫貯存試驗(yàn)、高溫工作試驗(yàn)。其目的主要用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低溫環(huán)境的適應(yīng)性。

電子電器產(chǎn)品－高低溫試驗(yàn)本部分試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫、高溫、高濕度、高濕度與溫度組合環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。