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以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測(cè)長(zhǎng)度,主要用于測(cè)量線紋距離的精密長(zhǎng)度測(cè)量工具。

比長(zhǎng)儀一般采用測(cè)量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度,與被測(cè)長(zhǎng)度比較而確定量值。比長(zhǎng)儀主要用于檢定線紋尺,測(cè)量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測(cè)量孔徑。

比長(zhǎng)儀按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類�？v向比長(zhǎng)儀采用線紋尺作為已知長(zhǎng)度,且結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合阿貝原則(見(jiàn)長(zhǎng)度測(cè)量工具),稱為阿貝比長(zhǎng)儀(見(jiàn)圖[阿貝比長(zhǎng)儀])。測(cè)量時(shí),先用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動(dòng)工作臺(tái),再用測(cè)量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測(cè)線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個(gè)數(shù)值之差即是被測(cè)兩線條間距離。橫向比長(zhǎng)儀的被測(cè)長(zhǎng)度和已知長(zhǎng)度是并列布置的,這種布局可以縮短導(dǎo)軌長(zhǎng)度,但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者,稱為光電比長(zhǎng)儀;采用激光或其他單色光波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度者,分別稱為激光比長(zhǎng)儀和光電光波比長(zhǎng)儀。阿貝比長(zhǎng)儀的測(cè)量精確度為±1~±1.5微米/200毫米,光電比長(zhǎng)儀可達(dá)到±0.5微米/1000毫米,而光電光波比長(zhǎng)儀和激光比長(zhǎng)儀則可達(dá)到±0.2微米/1000毫米。

2、將被測(cè)試體擦凈,一端釘頭放入比長(zhǎng)儀下測(cè)頭球面孔內(nèi),另一端釘頭輕輕放入比長(zhǎng)儀上測(cè)頭的球面孔內(nèi)。

3、左右旋轉(zhuǎn)被測(cè)體,使試體與比長(zhǎng)儀下測(cè)頭良好接觸。檢查比長(zhǎng)儀上下測(cè)頭球面孔內(nèi)是否有砂粒等臟物。

4、測(cè)量試體讀數(shù)時(shí),首先讀表盤內(nèi)小表針?biāo)�指示的�?shù)值,然后再讀大表針?biāo)�指示的�?shù)值。

5、比長(zhǎng)儀是一種精密的測(cè)量?jī)x器,在使用過(guò)程中一定要輕拿輕放,保持整潔。