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探針的材質(zhì)：W,ReW,CU、 A+

1、主要采用的材質(zhì)為W,ReW, 彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長,壽命一般。

2、A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長。

A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；

B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；

C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1、ICT探針�。↖CT series Probes）

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．

2、界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機(jī)臺的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)（Teradyne）和安捷倫（Agilent）．用于測試機(jī)臺與測試夾具的接觸點和面．

3、微型探針（MicroSeries Probes）

兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．

4、開關(guān)探針（Switch Probes）

開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流．

5、高頻探針（Coaxial Probes）

用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．

6、旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）

彈力一般不高,因為其穿透性本來就很強(qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測試．

7、高電流探針（High Current Probes）

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達(dá)39amPS.

8、半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9、電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長．

10、汽車線束測試測試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測,直徑在1.0——3.5mm之間,電流在3————50A

除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用。